• Springe zu WISTA-Standorte
  • Springe zu Hauptmenü
  • Springe zu Seiteninhalt
WISTA Logo
  • WISTA
  • WISTA.Plan
  • WISTA.Service
  • Adlershof
  • Charlottenburg
  • Südwest
  • Marzahn
WISTA direkt
Suche
  • de
  • en
  • WISTA Logo
  • Über uns
    • Mission / Management
      • Unternehmens­profil
      • Team
      • Aufsichtsrat / Beirat / Young Professionals
      • Jahresberichte
      • Ausschreibungen / Vergabe
    • Nachhaltigkeit / Diversity
    • Tochter­firmen
      • WISTA.Plan
      • WISTA.Service
    • Anfahrt
  • Aktuelles
    • Übersicht
    • News
    • Termine / Veranstaltungen
      • Diversity Conference Adlershof
    • Social Media Wall
    • Presse
    • Potenzial Magazin
    • Adlershof Journal
    • Downloads
    • Redaktion
  • Services
    • Alle Service­angebote der WISTA
    • ​Gründungs­programme / Coworking
      • Gründungswerkstatt Adlershof
    • Netzwerke / Kooperationen
    • Talent­förderung / Personal­entwicklung
    • Veranstaltungs- und Besucher­dienst
    • Gesundheits­netzwerk
  • Projekte
    • Fokusthemen
    • Team Innovation
  • Orte
    • Übersicht
    • Technologie­park Adlershof
    • Innovations­zentrum CHIC Charlottenburg
    • Innovations­campus FUBIC Südwest
    • CleanTech­ Business Park Marzahn
    • Gewerbehöfe 2.0
    • Innovationskorridor Berlin-Lausitz
    • Geschäftsstelle Zukunftsorte
  • Immobilien
    • Aktuelle Immobilien­angebote der WISTA
    • ST3AM Arbeitswelten / Coworking
    • Gebäude-Management
  • Talente
    • Übersicht
    • WISTA als Arbeitgeber
      • Stellenangebote
      • Mitarbeitende im Porträt
    • WISTA Academy
    • Förderung / Nachwuchs
  • Blog
  • WISTA
  • WISTA.Plan
  • WISTA.Service
  • Adlershof
  • Charlottenburg
  • Südwest
  • Marzahn
WISTA direkt

Aktuelles

  • Übersicht
  • News
  • Termine / Veranstaltungen
  • Social Media Wall
  • Presse
  • Potenzial Magazin
  • Adlershof Journal
  • Downloads
  • Redaktion
  • WISTA
  • Aktuelles
18. Februar 2016

Neuer Detektorkopf von Bruker Nano ergänzt Instrumente für SEM

OPTIMUS™ TKD detector head complements unique 5-on-1 range of instruments for SEM

Bild: Bruker Nano
Bild: Bruker Nano

Bruker’s high performance e-Flash EBSD detector series can now be configured with the OPTIMUS™ TKD detector head which was specifically designed for best sample-detector geometry for Transmission Kikuchi Diffraction analysis (TKD) in SEM. The detector head not only acquires Kikuchi patterns with unmatched sensitivity, but even provides access to SAED (Selected Area Electron Diffraction) like patterns.

It is equipped with the ARGUS™ imaging system that enables brilliant dark field and bright field imaging with details down to nanometer scale, practically transforming your SEM into a TEM.

The OPTIMUS™ TKD detector head seamlessly works with Bruker’s TKD Professional Toolkit for SEM including TKD sample holder, the XFlash® EDS detector series for simultaneous TKD/EDS measurements and the ESPRIT 2 analytical software suite.

For more information visit www.bruker.com/optimus-tkd.

Analytik

Meldungen dazu

Picture: Bruker

Bruker kündigt die weltweit ersten 1,2 GHz hochauflösenden Protein-NMR-Daten an

Weltrekord für stabile, homogene NMR-Magnete

Verknüpfte Einrichtungen

  • Bruker Nano GmbH
  • LinkedInmitteilen0
  • Facebookteilen0
  • WhatsAppteilen0
  • E-Mail
  • © WISTA Management GmbH
  • Impressum
  • Datenschutz
  • Barrierefreiheit
  • Kontakt
  • Karriere
  • Presse
  • Newsletter
  • Social-Media-Übersicht
  • Werbung
Mitglied bei:
Zukunftsorte Logo