HZB-Forscher Frank Siewert mit „Giovanni Sostero Preis“ ausgezeichnet
Adlershofer für Leistungen in der optischen Messtechnik geehrt
Frank Siewert aus dem HZB-Institut für Nanometeroptik und Technologie ist mit dem internationalen „Giovanni Sostero Preis 2015“ ausgezeichnet worden. Damit würdigte das Preiskomitee seine Beiträge zur Weiterentwicklung der optischen Messtechnik für Synchrotronoptiken. In seiner Begründung betonten die Juroren, Siewert habe mit seinen Arbeiten „die Grenzen der optischen Messtechnik auf ein beispiellos hohes Niveau gebracht und unterstützte konstruktiv mit seinen modernsten Messmethoden die gesamte internationale Metrologie-Community für Röntgenoptiken“.
Die Auszeichnung wurde in einer Zeremonie während des 6. Internationalen Workshops für Röntgenoptik und Metrologie übergeben, der vom 14.-16. Juli 2015 im Lawrence Berkeley National Laboratory in Berkeley, Kalifornien stattfand. Die Verleihung dieses Preises stellt die führende Position des HZB-Labors für Optische Messtechnik innerhalb der Synchrotron-Community heraus.
Der Preis wird alle drei Jahre verliehen zur Erinnerung an Giovanni Sostero, der vormals Leiter des Metrologielabors für weiche Röntgenstrahlung am Elettra in Triest war. Mit dem Preis geehrt werden Wissenschaftler, die wesentlich zur Entwicklung der Metrologie für modernste Röntgenoptiken beigetragen haben.
Weitere Informationen:
Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie
Institut Nanometeroptik und Technologie
Prof. Dr. Alexei Erko
Institutsleiter
Tel.: (030) 8062-12945
E-Mail: alexei.erko(at)helmholtz-berlin.de
Frank Siewert
Tel.: (030) 8062-14846
Fax: (030) 8062-14682
E-Mail: frank.siewert(at)helmholtz-berlin.de